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J-GLOBAL ID：201702278215256726   整理番号：17A0799814

干渉縞の応用による広範囲精密計測 光コムレーザーを使った三次元測定 ノーベルテックである光コムレーザーが新時代の非接触測定を実現

著者 (1件)： 野田直孝 (光コム)
資料名： 画像ラボ  (Image Laboratory)
巻： 28  号： 7  ページ： 56-60  発行年： 2017年07月10日 
JST資料番号： L2340A  ISSN： 0915-6755  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 当社は,2002年に東京工業大学からスピンアウト,光コムの産業応用に着手。2016年より自動車業界を中心に三次元形状測定器としての利用が始まり,新時代の測定を実現しつつある。インダストリー4.0時代における高速非接触測定を事例を交えて紹介する。(著者抄録)

シソーラス用語： *干渉縞 ,  *干渉計 ,  *非接触測定 ,  *レーザ ,  *三次元測定 ,  事例研究 ,  計測 ,  穴 ,  計測システム
準シソーラス用語： インライン測定 ,  *光コムレーザ ,  三次元計測

分類 (3件)： 干渉測定と干渉計  (BD07070G) ,  レーダ  (ND13010H) ,  計測機器一般  (AD02000X)

タイトルに関連する用語 (8件)： 干渉縞 ,  応用 ,  精密計測 ,  光コム ,  レーザー ,  三次元測定 ,  テック ,  非接触測定