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J-GLOBAL ID:201702278291609005   整理番号:17A0080001

CuInS2量子ドット薄膜に関する線形増大電圧による注入電荷抽出(i-CELIV)を用いた電荷キャリア動力学研究 ZnSシェルの役割

Charge carrier dynamics investigation of CuInS2 quantum dots films using injected charge extraction by linearly increasing voltage (i-CELIV): the role of ZnS Shell
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巻: 18  号: 12  ページ: Article:367,1-5  発行年: 2016年12月 
JST資料番号: W1361A  ISSN: 1388-0764  CODEN: JNARFA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
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CuInS2/ZnS量子ドット(QD)内での光物理特性に対するZnSシェルの役割を,オプトエレクトロニクス素子において注意深く調べた。線形増大電圧法を用いて,CuInS2およびCuInS2/ZnSの両QD薄膜について,電荷キャリア動力学を調べた。本研究は,電荷キャリアが,この薄膜内での単分子再結合と類似の挙動に従うこと,その電荷移動レートは,外部電圧の増大と相関があること,を示した。ZnSシェルは,トラッピング状態の低下を通してキャリア拡散過程に影響を及ぼし,ポテンシャル障壁の構築をもたらし得ることが分かった。Copyright 2016 Springer Science+Business Media Dordrecht Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (1件):
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半導体薄膜 

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