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J-GLOBAL ID：201702282874759771   整理番号：17A0255552

トレンドを探る 企業訪問 きらりと光る優良企業(第23回)電子顕微鏡やその他の検査機器に対して,最高度技術を発展させて産業界に貢献する日本電子(株)

著者 (1件)： 加藤俊夫 (厚木エレクトロニクス)
資料名： エレクトロニクス実装技術  (Electronic Packaging Technology)
巻： 33  号： 3  ページ： 46-49  発行年： 2017年02月20日 
JST資料番号： L0322A  ISSN： 1342-2839  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 日本電子(株)(JEOL)は1949年に日本電子光学研究所として設立され,ただちに電子顕微鏡を完成させ,1956年にはフランスにも輸出している。その後,各種の電子顕微鏡を開発し,さらにNMR,FIB,クロマトグラフィなど高度な分析機器を産業界に提供し続け,技術オリエンテッドな特色ある企業として発展している。本稿では,JEOLにおける,透過電子顕微鏡(TEM),走査型電子顕微鏡(SEM),およびその他の高性能検査機器について解説する。

シソーラス用語： *検出 ,  *企業 ,  *電子顕微鏡 ,  *試験装置 ,  *産業 ,  NMR【磁気共鳴】 ,  集束イオンビーム ,  クロマトグラフィー ,  分析機器 ,  透過型電子顕微鏡 ,  走査電子顕微鏡
準シソーラス用語： *トレンド検出

分類 (1件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

タイトルに関連する用語 (9件)： トレンド ,  企業 ,  訪問 ,  電子顕微鏡 ,  検査 ,  高度 ,  発展 ,  産業界 ,  株