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J-GLOBAL ID：201702282959489803   整理番号：17A0276541

マルチレベルセルNANDフラッシュメモリのためのジョイント不均一検出と低複雑性復号化【Powered by NICT】

Joint non-uniform detection and low-complexity decoding for multi-level cell NAND flash memory

著者 (5件)： Lin Xusheng (School of Information Engineering, Guangdong University of Technology, Guangzhou, China) ,  Ouyang Shijie (School of Information Engineering, Guangdong University of Technology, Guangzhou, China) ,  Han Guojun (School of Information Engineering, Guangdong University of Technology, Guangzhou, China) ,  Li Yanfu (School of Information Engineering, Guangdong University of Technology, Guangzhou, China) ,  Fang Yi (School of Information Engineering, Guangdong University of Technology, Guangzhou, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： ICCE-China  ページ： 1-6  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 製造技術の発展に伴い,マルチレベルセル(MLC)技術は,NANDフラッシュメモリの記憶密度を著しく増加させた。結果として,細胞間干渉(CCI)が深刻になり,このため,細胞中に蓄積されたデータのビット誤り率の増加を引き起こす。最近,低密度パリティ検査(LDPC)符号は,MLC NANDフラッシュメモリの干渉に対抗する有望な解決策であると考えられてきた。しかし,和-積アルゴリズム(SPA)の復号化計算量は非常に高い。本論文では,各NANDフラッシュメモリセルにおける各ビットの対数尤度比(LLR)情報の精度を改善するために,軟判定基準vlotagesの値を決定するために平均最大相互情報を用いた不均一検出(N UD)を採用した。さらに,復号化計算量を低減し,復号化性能を向上させる目的で,修正ソフト信頼性ベースの反復多数決論理復号化(MSRBI MLGD)アルゴリズム,復号LDPC符号にべき関数に基づく不均一量子化器を用いたを提案した。シミュレーション結果は,著者らの設計は高いカラム量LDPC符号化MLC NANDフラッシュメモリの性能と複雑性の間の望ましいトレードオフを提供することができることを示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *復号化 ,  判定基準 ,  量子化器 ,  計算量 ,  生産技術 ,  多数決論理 ,  *フラッシュメモリ
準シソーラス用語： *複雑性 ,  LDPC符号 ,  対数尤度比 ,  *NAND ,  LDPC ,  ビット誤り率 ,  *低複雑性 ,  *NANDフラッシュ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (7件)： マルチレベル ,  セル ,  NANDフラッシュメモリ ,  ジョイント ,  不均一 ,  低複雑性 ,  復号化