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J-GLOBAL ID:201702282967978895   整理番号:17A0751640

溶液法による誘電体処理としてZrO_2を用いた透明酸化インジウム亜鉛薄膜トランジスタの性能【Powered by NICT】

Performances of transparent indium zinc oxide thin film transistors using ZrO2 as dielectric processed by solution method
著者 (6件):
資料名:
巻: 214  号:ページ: ROMBUNNO.201600315  発行年: 2017年 
JST資料番号: D0774A  ISSN: 1862-6300  CODEN: PSSABA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
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溶液処理したジルコニア(ZrO_2)誘電体を用いた透明酸化インジウム亜鉛(IZO)薄膜トランジスタの電気的およびUV光電性能を報告した。チャネル層を室温でマグネトロンスパッタリングにより堆積した。ZrO_2誘電体は環境条件とそれに続く低温アニーリング下での溶液プロセスにより堆積した。膜をX線回折と原子間力顕微鏡によって構造的に特性化した。電界効果移動度30.7cm~2V~ 1s~ 1の10~5の電流オン/オフ比,0.8Vのしきい値電圧,および30mV/decade~ 1のサブしきい値スイングで得られた良好なデバイス特性(1)。抵抗負荷インバータを作成した,2Vの電源電圧で約5の利得をもつ合理的な伝達特性を示した。トランジスタはUV照射に敏感であることが観察された。120μW cm~ 2の強度を有する紫外光に曝露すると,暗電流比は空乏領域における10~4以上であった。すべての上記の特徴は,IZO薄膜トランジスタを作るUV光トランジスタとして使用される有望な候補である。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (2件):
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トランジスタ  ,  酸化物薄膜 
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