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J-GLOBAL ID：201702283774497322   整理番号：17A0168276

小角X線散乱バックグラウンドの反復かつ正確な決定【Powered by NICT】

Iterative and accurate determination of small angle X-ray scattering background

著者 (8件)： Wang Geng (Shanghai Synchrotron Radiation Facility, Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences) ,  Xu Lifeng (Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences) ,  Shen Jianlei (Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences) ,  Yao Guangbao (Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences) ,  Ge Zhilei (Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences) ,  Li Wenqin (Shanghai Synchrotron Radiation Facility, Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences) ,  Fan Chunhai (Shanghai Synchrotron Radiation Facility, Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences) ,  Chen Gang (Shanghai Synchrotron Radiation Facility, Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences)
資料名： Hejishu(Yingwenban)  (Hejishu(Yingwenban))
巻： 27  号： 5  ページ： 105-1-105-5  発行年： 2016年 
JST資料番号： C2619A  ISSN： 1001-8042  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： X線散乱は材料構造キャラクタリゼーションに広く用いられている。が,弱い散乱特性は,背景雑音に感受性にし,その結果最終結果は信頼性にすることができる。本論文では,著者らは,X線散乱バックグラウンドを決定し,金ナノ粒子上の小角X線散乱によるその実現可能性を実証するために反復法を報告した。この方法のみがデータあてはめプロセスにおけるバックグラウンド,実験不確実性から免疫であることを可能にするからの散乱信号を分離するために試料の正確な構造モデルに依存している。背景減算のためのスケーリング因子の正確な決定の重要性も説明した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 逐次近似 ,  *X線散乱 ,  減算 ,  感受性 ,  不確実性 ,  キャラクタリゼーション ,  信頼性 ,  *散乱
準シソーラス用語： 構造モデル ,  金ナノ粒子 ,  背景雑音 ,  散乱特性 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： X線散乱背景 ,  SAXS ,  金ナノ粒子

分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (3件)： 小角X線散乱 ,  バックグラウンド ,  反復