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J-GLOBAL ID：201702284978402251   整理番号：17A0381268

プリント回路基板上のプリントマイクロストリップ伝送地間の強い結合(クロストーク)【Powered by NICT】

Strong coupling (crosstalk) between printed microstrip transmission lands on printed circuit boards

著者 (5件)： Queshi Haseeba Naveed (Electrical Engineering, COMSATS Institute of Information Technology, Abbottabad, K.P.K, Pakistan) ,  Ullah Irfan (Electrical Engineering, COMSATS Institute of Information Technology, Abbottabad, K.P.K, Pakistan) ,  Khan Shahid (Electrical Engineering, COMSATS Institute of Information Technology, Abbottabad, K.P.K, Pakistan) ,  Ur Rehman Kazim Jalil (Electrical Engineering, COMSATS Institute of Information Technology, Abbottabad, K.P.K, Pakistan) ,  Khattak Shahid (Electrical Engineering, COMSATS Institute of Information Technology, Abbottabad, K.P.K, Pakistan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： IBCAST  ページ： 711-716  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,プリント回路基板上のマイクロストリップ伝送地間の強い結合(クロストーク)は,電磁両立性(EMC)の観点から研究した。マイクロストリップ伝送線路の近端と遠端クロストーク式を解析的に導出し,ADS運動量と回路シミュレータを用いて検証した。実験検証のために,三つの分離したPCB上の結合マイクロストリップ伝送線路(3mm,5mm及び10mm分離)の三例は4.6の相対的誘電率と厚さ1.6mmのRogers FR4基板上に作製した。近と遠端クロストークをAgilentネットワークアナライザを用いて測定した。近と遠端クロストークの測定結果は,ADS運動量結果とよく一致する。開発した解析モデルを弱および強結合計算に用いることができる。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 解析モデル ,  電磁両立性 ,  *プリント基板 ,  強結合 ,  伝送線路 ,  誘電率 ,  *クロストーク ,  運動量 ,  ネットワークアナライザ ,  *マイクロストリップ線路 ,  実験検証
準シソーラス用語： 回路シミュレータ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 伝送線  (NC04030C) ,  プリント回路  (NA05040O)

タイトルに関連する用語 (2件)： プリント回路基板 ,  クロストーク