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J-GLOBAL ID:201702291709763899   整理番号:17A0069826

掃頻調Xie予備走査に基づく高速EMI試験のキー技術の研究【JST・京大機械翻訳】

Research on key technology of rapid EMI measurement method based on swept-tuned pre-scanning
著者 (4件):
資料名:
巻: 30  号:ページ: 1269-1274  発行年: 2016年 
JST資料番号: C2677A  ISSN: 1000-7105  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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点頻式測定法によるEMI試験の低効率の問題を解決するために,数の走査に基づくEMIの高速試験を実現した。まず第一に,数と前の測定方法の特性に従って,掃頻調Xieのプレスキャンと点頻調の測定に基づく高速EMI試験システムのフレームワークとトポロジー関係を提案する。第二に,走査型走査の誤差補償技術を研究し,そして,測定精度に及ぼす環境レベル,アンテナ,および給電線の影響を研究した。最終的に,GB14023-2011の規定に従って,車両の掃頻調Xieのための高速走査試験システムを構築し,誤差補正,データ蓄積,およびデータ処理を実現した。結果は以下を示す。30~1000MHZの周波数領域におけるピーク検出において,走査型走査型走査を使用することによって,時間を節約することができた。4Sの検出効率は33%増加した。%。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】
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