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J-GLOBAL ID：201002220846439946   整理番号：10A0032450

深さ分解XAFS測定によるNd₂NiO₄エピタキシャル薄膜の電子・局所構造解析

Electronic and local structures of Nd₂NiO₄ epitaxial thin film studied by depth-resolved XAFS measurements

著者 (13件)： 雨澤浩史 (東北大) ,  伊奈稔哲 (京大) ,  折笠有基 (京大) ,  福塚友和 (京大) ,  山田淳夫 (東大) ,  宇根本篤 (東北大) ,  高垣昌史 (JASRI) ,  宇留賀朋哉 (JASRI) ,  谷田肇 (JASRI) ,  豊川秀訓 (JASRI) ,  寺田靖子 (JASRI) ,  川田達也 (東北大) ,  内本喜晴 (京大)
資料名： 固体イオニクス討論会講演要旨集  (Extended Abstracts. Symposium on Solid State Ionics in Japan)
巻： 35th  ページ： 128-129  発行年： 2009年12月07日 
JST資料番号： L1398A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *電極材料 ,  *ヘテロ接合 ,  蒸着膜 ,  レーザ蒸着 ,  エピタクシー ,  電子構造 ,  XAFS ,  深さ分析 ,  酸化イットリウム ,  酸化ジルコニウム ,  アニーリング【現象】 ,  固体電解質 ,  イオン伝導 ,  *酸化ネオジム ,  *酸化ニッケル
準シソーラス用語： 局所構造

分類 (4件)： 電解装置  (XE02030E) ,  13-15族化合物を含まない半導体-半導体接合  (BM03083P) ,  酸化物薄膜  (BK14050P) ,  金属酸化物及び金属カルコゲン化物の結晶構造  (BK07020Y)

タイトルに関連する用語 (7件)： 分解 ,  XAFS ,  エピタキシャル ,  薄膜 ,  電子 ,  局所構造 ,  解析