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J-GLOBAL ID：201002228361309697   整理番号：10A0063252

光学的測定を用いた液体誘電体中の残留電荷の検討

Study of Residual Charge in dielectric liquid using optical measurement

著者 (3件)： 吉原秀雄 (愛媛大) ,  藤井雅治 (愛媛大) ,  井堀春生 (愛媛大)
資料名： 電気学会放電研究会資料  (電気学会研究会資料)
巻： ED-09  号： 194-201  ページ： 25-29  発行年： 2009年12月11日 
JST資料番号： Z0911A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 残留電荷と光強度の関係を調べるために液体誘電体中の残留電荷の量を変化させて光学的測定を行った。残留電荷の量は,電圧印加後に発生した残留電荷の量が自然減少していくことを利用した方法と,資料に印加するパルス電圧の大きさを変える方法によって変化させた。これらの測定結果から残留電荷と光強度変化値の関係について検討した。実験結果より,残留電荷が存在する状態での電気光学的測定によって,その試料にどの程度の残留電荷が存在したのかを推測することが可能であることを示すことができた。

シソーラス用語： *液体誘電体 ,  電荷 ,  光学的測定 ,  絶縁破壊 ,  Kerr効果
準シソーラス用語： *残留電荷 ,  *パルス電圧 ,  *発光強度

分類 (1件)： 絶縁材料  (NA04030W)

引用文献 (10件)：

• M. Zahn T. Takada and S. Voldman: J. Appl. Phys. Vol.54,(1983), 4749.
• T. Hikita, M. Zhan, K. A. Wright, C. M. Cooke, and J. Brennan: IEEE Trans. Elect. Insul. Vol.23,(1988), 861.
• T. Maeno and T. Takada: IEEE Trans. Elect. Insul. Vol. EI-22,(1987), 503.
• U. Gafvert, L. Walfridosson and A. Jaksts: Proc 3rd ICPADM, Tokyo Japan, 1991, Vol.2,(1991) p. 928.
• K. Tanaka and T. Takada: IEEJ. Vol.113-A, No.10,(1993)712.

タイトルに関連する用語 (3件)： 光学的測定 ,  液体誘電体 ,  残留電荷