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J-GLOBAL ID：201002270623931331   整理番号：10A0465689

超音波計測によるボロン添加FZシリコン中の原子空孔観測

著者 (8件)： 馬場正太郎 (新潟大 大学院) ,  永井勇太 (新潟大 大学院) ,  赤津光洋 (新潟大 大学院) ,  小松悟 (新潟大 大学院) ,  三本啓輔 (新潟大 大学院) ,  根本祐一 (新潟大 大学院) ,  金田寛 (新潟大 物質量子セ) ,  後藤輝孝 (新潟大 大学院)
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts of the Spring Meeting, Japan Society of Applied Physics and the Related Societies)
巻： 57th  ページ： ROMBUNNO.20A-TW-2  発行年： 2010年03月03日 
JST資料番号： Y0054B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *ケイ素 ,  *空孔欠陥 ,  *ホウ素 ,  *超音波検査 ,  温度依存性 ,  ドーピング ,  *原子空孔 ,  磁場依存性

分類 (2件)： 半導体の格子欠陥  (BK12040Q) ,  非破壊試験  (HB02030F)

タイトルに関連する用語 (5件)： 超音波計測 ,  ボロン ,  シリコン ,  原子空孔 ,  観測