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J-GLOBAL ID：201102206356848770   整理番号：11A1804469

フェムト秒レーザーを用いた2次中性粒子質量分析法の開発と宇宙試料分析への応用

Development of secondary neutral mass spectrometry using femtosecond laser and its applications to space sample characterization.

著者 (4件)： 圦本尚義 (北大 大学院理学研究院) ,  石原盛男 (大阪大 大学院理学研究科) ,  内野喜一郎 (九大 大学院総合理工学研究院) ,  江端新吾 (北大 創成研究機構)
資料名： 応用物理  (JSAP International)
巻： 80  号： 11  ページ： 979-982  発行年： 2011年11月10日 
JST資料番号： F0252A  ISSN： 0369-8009  CODEN： OYBSA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 小惑星からはやぶさが持ち帰った宇宙試料を分析するために,Gaイオン粒子でスパッタされた2次中性粒子をフェムト秒レーザーでイオン化する質量分析法を開発してきた。質量分析には多重周回飛行時間型質量分析器を用いている。現在,サンプル上で40nmの空間分解能とHeなどの希ガスを含む全元素のポストイオン化に成功している。本分析法を宇宙試料に適用することにより,太陽系誕生時の太陽活動の記録や太陽系誕生以前に形成した微粒子の年代測定が可能になると考えられる。(著者抄録)

シソーラス用語： *質量分析 ,  パルスレーザ ,  小惑星 ,  宇宙探査機 ,  スパッタリング ,  中性粒子 ,  光イオン化 ,  フェムト秒 ,  レーザ照射 ,  太陽風 ,  照射損傷 ,  *惑星物質 ,  惑星探査
準シソーラス用語： はやぶさ【科学衛星】 ,  イトカワ ,  宇宙試料 ,  宇宙風化

分類 (2件)： 鉱物・岩石・鉱石の物理分析  (CC03090Y) ,  惑星  (DB04020E)

引用文献 (6件)：

• Science. 2011, 333, 1113-1131
• YURIMOTO, H. Appl. Surf. Sci. 2003, 203, 793
• ISHIHARA, M. Surface and Interface Analysis. 2010, 42, 1598
• WEIBBACKER, C. J. Electron Microsc. 2002, 51, 45
• OKUMURA, D. Eur. J. Mass Spectrom. 2005, 11, 261

タイトルに関連する用語 (7件)： フェムト秒レーザー ,  2次中性粒子質量分析 ,  開発 ,  宇宙 ,  試料 ,  分析 ,  応用