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J-GLOBAL ID：201102275467049932   整理番号：11A0794792

ピクセル検出器閾値スキャン法によるX線回折像・エネルギー同時測定

著者 (9件)： 豊川秀訓 (JASRI) ,  川瀬守弘 (JASRI) ,  広野等子 (JASRI) ,  古川行人 (JASRI) ,  大端通 (JASRI) ,  梶原堅太郎 (JASRI) ,  佐藤眞直 (JASRI) ,  高垣昌史 (JASRI) ,  本間徹生 (JASRI)
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts of the Spring Meeting, Japan Society of Applied Physics and the Related Societies)
巻： 58th  ページ： ROMBUNNO.26P-EA-11  発行年： 2011年03月09日 
JST資料番号： Y0054B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *Si半導体検出器 ,  *閾値 ,  走査 ,  *X線回折 ,  *同時計測 ,  計測 ,  *ピクセル検出器
準シソーラス用語： *スキャン法 ,  同時測定 ,  放射線計測

分類 (1件)： 放射線計測・計測器一般  (AD08010Y)

タイトルに関連する用語 (6件)： ピクセル検出器 ,  閾値 ,  スキャン法 ,  X線回折像 ,  エネルギー ,  同時測定