特許
J-GLOBAL ID：201103002298758926

散乱媒質中微量成分濃度の無侵襲測定装置

発明者：
堀中 博道

堀中 博道 について

, 
和田 健司

和田 健司 について

, 
張 吉夫

張 吉夫 について


出願人/特許権者：
株式会社エイムテクノロジー

株式会社エイムテクノロジー について


公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-318154
公開番号（公開出願番号）：特開2006-122579
特許番号：特許第4269079号
出願日： 2004年11月01日
公開日（公表日）： 2006年05月18日
請求項（抜粋）：
【請求項1】レーザーあるいは発光ダイオードと偏光子、位相変調器を用いて楕円率が時間的に変化する楕円偏光を生成し、媒質中の微粒子による光散乱を示す被測定物に入射させ、検光子を通過した被測定物の透過光を検知器で受光し、検知器の電気信号の中から位相変調器に同期して変化する成分をロックインアンプで検出することで、入射時の偏光状態を保存した透過光成分を抽出し、光散乱係数を求め、グルコース濃度を測定することを特徴とする装置。
IPC (3件)：
A61B 5/145 ( 200 6.01) ,  G01N 21/21 ( 200 6.01) ,  G01N 21/47 ( 200 6.01)
FI (3件)：
A61B 5/14 310 ,  G01N 21/21 Z ,  G01N 21/47 Z
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (7件)
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引用文献：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (1件)

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