特許

J-GLOBAL ID：201103017599370939

3次元形状測定方法

発明者： 武田 光夫 ,  木下 雅也 ,  顧 全 ,  高井 英明 ,  高橋 洋祐
出願人/特許権者： 株式会社オプトン
代理人 (1件)： 足立 勉
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-050566
公開番号（公開出願番号）：特開平10-246612
特許番号：特許第3388684号
出願日： 1997年03月05日
公開日（公表日）： 1998年09月14日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 3次元形状の被測定物に格子パターンを投影し、この格子像から前記被測定物の3次元形状の測定値を得る3次元形状測定方法において、周期と向きとが互いに異なる複数の1次元格子を重畳させた2次元格子パターンを前記被測定物に投影し、前記被測定物の3次元形状に応じて変形した2次元格子像を撮像し、該2次元格子像から前記各1次元格子成分毎に位相を検出し、該各位相に基づいて前記測定値を得ることを特徴とする3次元形状測定方法。

IPC (3件)：

G01B 11/25 ,  G01B 11/24 ,  G06T 1/00 315

FI (3件)：

G06T 1/00 315 ,  G01B 11/24 E ,  G01B 11/24 K

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 特開平4-220510
  
• 特開昭63-044107
  
• 特開昭61-260107