特許

J-GLOBAL ID：201103028677417019

アイソトポマ-質量分析装置

発明者： 吉田 尚弘 ,  木村 宏一 ,  小泉 英明 ,  加藤 義昭 ,  坂入 実
出願人/特許権者： 科学技術振興事業団 ,  株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 高橋 明夫 (外1名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-039456
特許番号：特許第3048146号
出願日： 1999年02月18日
請求項（抜粋）：

【請求項1】イオンビームの通路に偏向磁場およびトロイダル電場を作用させて立体二次二重収束を行わせて試料の分析を行う質量分析装置であって、前記試料をイオン化するイオン化室、該イオン化室に試料を供給する手段、前記イオンビームの通路にイオンを放出するための加速電極および該加速電極にイオンの加速電圧を繰り返し与える加速電源、増幅度を異にする信号増幅装置を備えるイオン検出器およびこれらの制御及び検出結果の処理を行う総合制御装置を備え、かつ、前記試料として標準試料と被検体試料とが交互に供され、前記加速電圧が分析対象の大部分のイオンの質量に対応する加速電圧よりはやや小さい固定加速電圧と前記分析対象の大部分のイオンのアイソトポマーのイオンの質量にほぼ対応した範囲で変化する鋸歯状の加速電圧との和で与えられ、前記イオン検出器の出力をアイソトポマーに対応する信号検出は信号増幅装置の高い増幅度による出力を使用し、そうでないときは、信号増幅装置の低い増幅度による出力を使用して、標準試料と被検体試料との強度信号から標準試料に対する被検体試料の相対的な同位体比の差に対応するδ値を導出することを特徴とするアイソトポマー質量分析装置。

IPC (2件)：

H01J 49/32 ,  G01N 27/62

FI (2件)：

H01J 49/32 ,  G01N 27/62 H

引用特許：

審査官引用 (5件)

• 特開昭58-019848
  
• 特開昭64-084556
  
• 微少量試料分析方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-226556   出願人：新日本製鐵株式会社
• 特開昭50-122985
  
• プラズマ励起による分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-328151   出願人：株式会社島津製作所