特許
J-GLOBAL ID：201103029454272899
立体形状測定装置
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
鈴江 武彦 (外2名)
公報種別：特許公告
出願番号（国際出願番号）：特願昭60-016836
公開番号（公開出願番号）：特開昭61-175511
出願日： 1985年01月31日
公開日（公表日）： 1986年08月07日
請求項（抜粋）：
【請求項1】測定すべき対象物体を第1の方向から第1のスライド面を通して照射して前記対象物体の表面に前記第1のスライド面に形成された像を結像させる第1の光源と、前記対象物体を第2のスライド面を通して前記第1の方向とは異なる第2の方向から照射して前記対象物体の表面に前記第2のスライド面に形成された像を結像させる第2の光源と、前記対象物体の前記第1および第2のスライド面を通して形成された像を1点の光学中心Fを通して観測することができる観測面とを備え、前記第1および第2のスライド面はそれぞれ複数のスリットラインを有しており、前記第1および第2の光源からの光によって前記第1および第2のスライド面の各スリットラインはそれぞれ前記対象物体の表面上に互いに交差して投影格子を形成するように投影され、前記投影格子上の空間座標を求めるべき点xを前記観測面上に観測点Pとして設定する手段と、前記点Pと光学中心Fとを結ぶ直線mを前記第1のスリット面上に逆投影し直線naとして設定する手段と、前記第1のスリット面上の前記複数のスリットと前記直線naとの交点を複数の対応候補点Ax1,Ax2,...として求める手段と、前記第1のスリット面を照射する前記第1の光源と前記複数の対応候補点Ax1,Ax2,...それぞれとを結ぶ全ての直線と前記直線mとの交点xa1,xa2,...を求める手段とからなる第1の観測手段、およびさらに前記点Pと光学中心Fとを結ぶ直線mを前記第2のスリット面上に逆投影し直線nbとして設定する手段と、前記第2のスリット面上の前記複数のスリットと前記直線nbとの交点を複数の対応候補点Bx1,Bx2,...として求める手段と、前記第2のスリット面を照射する前記第2の光源と前記複数の対応候補点Bx1,Bx2,...それぞれとを結ぶ全ての直線と前記直線mとの交点xb1,xb2,...を求める手段とからなる第2の観測手段を具備し、前記第1および第2の観測手段によって前記投影格子上の座標が決定されるようにしたことを特徴とする立体形状測定装置。
IPC (1件)：
引用特許：
前のページに戻る
