特許
J-GLOBAL ID：201103049736999814
イオン排除分離-UV吸光度増大システムによる弱塩基性イオンの高感度計測方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
須藤 政彦
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-322327
公開番号（公開出願番号）：特開2005-091052
特許番号：特許第3924618号
出願日： 2003年09月12日
公開日（公表日）： 2005年04月07日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 試料中の弱塩基性イオンを選択的に、かつ検出応答を増大させて分離計測する方法であって、溶離液として水を用い、水酸化物イオン型弱塩基性陰イオン交換樹脂を充填した分離カラムによる選択的イオン排除分離を行った後、各々分離された弱塩基性イオンを、イオン交換作用を利用したUV検出増大カラムに導入することによりUV検出器応答を増大させて検出することを特徴とする弱塩基性イオンの計測方法。
IPC (5件)：
G01N 30/84 ( 200 6.01)
, G01N 30/26 ( 200 6.01)
, G01N 30/46 ( 200 6.01)
, G01N 30/74 ( 200 6.01)
, G01N 30/88 ( 200 6.01)
G01N 30/84 E
, G01N 30/26 A
, G01N 30/46 A
, G01N 30/74 E
, G01N 30/88 C
, G01N 30/88 H
