特許
J-GLOBAL ID：201103075263780918
電磁波計測装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (2件)：
三好 秀和
, 勝 治人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-196578
公開番号（公開出願番号）：特開2011-047800
出願日： 2009年08月27日
公開日（公表日）： 2011年03月10日
要約：
【課題】従来の電気光学結晶を電界センサに用いた場合よりも広帯域、高感度、広範囲な計測を低コストで行う。【解決手段】電気光学効果を利用して電磁波を計測する装置において、少なくとも一方が電磁波によって屈折率の変化する2種類の誘電体薄膜を多層化し、入射光に対して所望の偏光状態を作り出す誘電体多層膜素子11と、誘電体多層膜素子11にレーザ光を照射するレーザ光源2と、誘電体多層膜素子11からのレーザ光の偏光状態の変化を強度変化に変換する第2のポラライザ6と、第2のポラライザ6からのレーザ光を電気信号に変換する光電変換器7とを具備する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
電気光学効果を利用して電磁波を計測する装置において、
少なくとも一方が電磁波によって屈折率の変化する2種類の誘電体薄膜を多層化し、入射光に対して所望の偏光状態を作り出す光学素子と、
前記光学素子にレーザ光を照射するレーザ光源と、
前記光学素子からのレーザ光の偏光状態の変化を強度変化に変換するポラライザと、
前記ポラライザからのレーザ光を電気信号に変換する光電変換器と
を具備することを特徴とする電磁波計測装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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