特許

J-GLOBAL ID：201103078939405596

粒径測定方法

発明者： 南 茂夫 ,  河田 聡 ,  笹木 敬司
出願人/特許権者： 南 茂夫 ,  河田 聡 ,  笹木 敬司 ,  大塚電子株式会社
代理人 (1件)： 亀井 弘勝 (外1名)
公報種別：特許公告
出願番号（国際出願番号）：特願昭62-074793
公開番号（公開出願番号）：特開昭63-238536
出願日： 1987年03月27日
公開日（公表日）： 1988年10月04日
請求項（抜粋）：

【請求項1】レーザ光が照射された測定対象物からのレーザ散乱光の時系列データに基いて、自己相関関数等の2次関数を介在させることなく式(但し、n(i△t)はi△t時の光子時系列、W(i△t)は白色ガウス過程、akは自己回帰係数、Mは次数である)に基いて自己回帰係数akを算出し、算出された自己回帰係数akに基いて定まる固有方程式ZM-a1ZM-1-a2ZM-2-...-aM=0の根Z1,Z2,...,ZMを算出し、算出された根Z1,Z2,...,ZMに基いて式dm=-2α△t/lnZm(但し、m=1,2,...,M、α=16πkTn2sin2(θ/2)/3ηλ2、kはボルツマン定数、Tは絶対温度、nは溶媒の屈折率、θは散乱角、ηは粘性率、λはレーザ光の波長、dmはストークス粒径である)により測定対象物の粒径dmを得ることを特徴とする粒径測定方法。

IPC (1件)：

G01B 11/08 Z