J-GLOBALについて

ENGLISH

文字サイズ
  • 小
  • 大

研究資源の詳細情報

更新日 2004年01月07日

研究資源J-GLOBAL ID:201110002801161778研究資源コード:5000002226

走査型電子顕微鏡、 真空熱処理炉、 薄膜用X線回折装置、 シーケンシャル型発光分光分析装置、 摩擦摩耗試験機、 マイクロスコープ、 電気化学測定装置、 ゼータ電位測定機、 流動電位測定装置、 金属顕微鏡、 マイクロ硬度計、 真空脱脂洗浄機、 サブゼロ装置、 電気炉、 焼戻し炉、 プラズマ浸炭装置、 アーク溶接機、 万能材料試験機、 精密万能材料試験機、 シャルピー衝撃試験機、 三次元測定機、 万能投影機、 万能測定顕微鏡、 表面粗さ計、 表面形状解析装置、 精密ワイヤーカット放電加工機、 フライス盤、 旋盤、 ボール盤、 平面研削盤、 形削盤、 万能工具研削盤、 金切鋸盤、 砥石切断機、 超精密旋盤、

資源分類:実験機器、施設等
  • J-GLOBALホームを見る
  • J-GLOBALをブックマークする

J-GLOBALでつながる、ひろがる、ひらめく

J-GLOBALについて

情報がつながる

J-GLOBALでは研究開発でキーとなる情報をつないでいます。例えば、文献と特許を人(著者・発明者)でつなぎ、そのつながりから次々と情報を取り出せます。
新たな気付きや、今まで見つからなかった情報の発見に役立ちます。

発想がひろがる

着目した情報が、連携する外部サイトリンクや内容が近い情報が見つかる関連検索でひろがります。
異分野の知識獲得や専門分野を超えた発想を支援します。

アイディアがひらめく

つながる・ひろがるの繰り返しから、思わぬ問題解決のヒントや新たなアイディアがひらめくキッカケを提供します。