文献

J-GLOBAL ID：201202223141280372   整理番号：12A0327519

ハードウェア・モジュール再利用における不具合の分析と形式手法による対策

著者 (6件)： 泉佑治 (ルネサスエレクトロニクス) ,  岡本圭史 (仙台高専) ,  加藤孝 (奈良先端科学技術大学院大) ,  木下佳樹 (産業技術総合研) ,  清水徹 (ルネサスエレクトロニクス) ,  中野哲 (ルネサスエレクトロニクス)
資料名： 日本ソフトウェア科学会大会講演論文集(CD-ROM)  (日本ソフトウエア科学会大会講演論文集(CD-ROM))
巻： 28th  ページ： ROMBUNNO.3C-2  発行年： 2011年 
JST資料番号： X0080B  ISSN： 1348-0901  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 我々は,産業における実例をもとに,ハードウェア・モジュール再利用における不具合事例を作成した。本稿では,その内容を分析し,形式手法を適用した場合の効果を考察する。ハードウェア・モジュールの設計,開発において,正常に稼動しているチップ1の中のモジュールを他のチップに再利用したところ,突然不具合が現れる,という事例は多い。そこで,ルネサス社内での開発中の事例をもとに,再利用時に発生する障害について,いくつかの典型的な不具合の事例を作成し,どのようにすればこれらの不具合を検出しうるか,を考察した。一方,開発対象の信頼性や作業効率の向上に寄与する開発手法として,形式手法が注目されている。そこで,本論文では,形式手法のうちから,いくつかの具体的手法(形式仕様記述,充足可能性判定,定理証明,model-based testingなど)を選び,我々が作成した不具合事例ごとに,それらの手法がどのように有効に働きうるかを考察する。一部の事例については,実際に数理モデルを立て,充足可能性判定によって仕様の矛盾を検出した結果を報告する。(著者抄録)

シソーラス用語： *ハードウェア設計 ,  *半導体チップ ,  *形式的手法【計算機】 ,  モジュール ,  再利用 ,  事例研究 ,  欠陥 ,  誤り ,  信頼性 ,  作業能率 ,  形式記述 ,  *充足可能性問題 ,  定理証明 ,  モデル検査 ,  数学モデル
準シソーラス用語： ハードウェアモジュール ,  数理モデル ,  不具合

分類 (4件)： CAD,CAM  (JE10000A) ,  半導体集積回路  (NC03162T) ,  計算理論  (JB02000A) ,  論理代数  (JB03000H)

タイトルに関連する用語 (6件)： ハードウェア ,  モジュール ,  再利用 ,  分析 ,  形式手法 ,  対策