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J-GLOBAL ID：201302265957291650   整理番号：13A0765569

オパール薄膜を用いた2000μstrain以下のひずみ計測に関する検討

著者 (5件)： 田中義和 (広島大 大学院工学研究院) ,  不動寺浩 (物質・材料研究機構) ,  百武壮 (土木研) ,  有尾一郎 (広島大 大学院工学研究院) ,  澤田勉 (物質・材料研究機構)
資料名： 日本非破壊検査協会講演大会講演概要集  (日本非破壊検査協会春季講演大会講演概要集)
巻： 2012  号： 春季  ページ： 161-162  発行年： 2012年05月22日 
JST資料番号： L1257A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 近年,新材料による応力・ひずみ評価方法のシーズ研究として,オパール薄膜によるひずみ評価が提案されている。そこで,著者らは,鉄やアルミといった構造材料に生じる応力・ひずみ評価にオパール薄膜を適用する研究を実施している。これまでは,2000μstrain以上のひずみにおいて検討を行ってきた。そこで,本講演では,オパール薄膜を張り付けたアルミ製試験片の引張試験を実施し,2000μstrain以下のひずみとオパール薄膜のピーク波長変化について検討した結果を報告する。(著者抄録)

シソーラス用語： *オパール ,  薄膜 ,  *歪測定 ,  アルミニウム ,  試験片 ,  引張試験 ,  波長 ,  *Bragg反射 ,  ピーク値 ,  有限要素法 ,  反射波 ,  ポリジメチルシロキサン ,  ポリスチレン

分類 (1件)： 金属材料  (HC02020X)

タイトルに関連する用語 (3件)： オパール ,  薄膜 ,  ひずみ計測