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J-GLOBAL ID：201302281889311030   整理番号：13A1078305

オパール薄膜を用いた光学的ひずみ計測の基礎研究

著者 (4件)： 田中義和 (広島大 大学院工学研究院) ,  石本大輔 (広島大 大学院工学研究科) ,  不動寺浩 (物質・材料研究機構) ,  百武壮 (土木研)
資料名： 日本船舶海洋工学会講演会論文集(CD-ROM)  (Conference Proceedings. Japan Society of Naval Architects and Ocean Engineers (CD-ROM))
号： 16  ページ： ROMBUNNO.2013S-GS6-19  発行年： 2013年05月 
JST資料番号： L6090B  ISSN： 2185-1840  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *薄膜 ,  光学 ,  *歪測定 ,  *オパール ,  永年変化 ,  ポリスチレン ,  ポリジメチルシロキサン ,  引張試験 ,  変色 ,  老朽化 ,  波長 ,  スペクトロスコピー

分類 (2件)： 力,仕事量,圧力,摩擦の計測法・機器  (AD05050V) ,  弾性力学一般  (HC02010M)

タイトルに関連する用語 (6件)： オパール ,  薄膜 ,  光学的ひずみ ,  計測 ,  基礎 ,  研究