特許
J-GLOBAL ID:201303015279246301

銀イオンの測定方法及び被検物質の測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 木森 有平 ,  浅野 典子
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-190130
公開番号(公開出願番号):特開2009-025217
特許番号:特許第4915740号
出願日: 2007年07月20日
公開日(公表日): 2009年02月05日
請求項(抜粋):
【請求項1】 銀イオンを含有する可能性のある測定溶液を電極に接触させ、前記電極の表面に電気化学的に銀を析出させる工程と、 前記電極の表面に析出した銀を電気化学的に酸化する際の電流を前記測定溶液中で測定する工程とを有し、 前記測定溶液が塩素イオンを含有することを特徴とする銀イオンの測定方法。
IPC (2件):
G01N 27/49 ( 200 6.01) ,  G01N 27/327 ( 200 6.01)
FI (2件):
G01N 27/46 306 ,  G01N 27/30 357
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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