特許
J-GLOBAL ID:201303077667936170

テラヘルツ分光システム及び物質同定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 三好 秀和 ,  工藤 理恵
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-152218
公開番号(公開出願番号):特開2011-007669
特許番号:特許第5243358号
出願日: 2009年06月26日
公開日(公表日): 2011年01月13日
請求項(抜粋):
【請求項1】 周波数が異なる複数のテラヘルツ波を照射するテラヘルツ波照射手段と、 前記複数のテラヘルツ波それぞれを測定対象に照射したときの透過波あるいは反射波の強度を測定する測定手段と、 前記複数のテラヘルツ波それぞれを候補物質に照射して測定した前記強度それぞれについて、当該強度のうちの1つを基準としたときの当該基準に対する他の前記強度の比を複数波長について複数取得して複数の候補物質強度比として格納した蓄積手段と、 前記測定手段が測定した前記複数のテラヘルツ波それぞれにおける前記強度を受信し、当該強度のうちの1つを基準としたときの当該基準に対する他の前記強度の比を複数波長について複数取得して複数の測定対象強度比として算出し、当該複数の測定対象強度比を前記蓄積手段に格納した前記複数の候補物質強度比のそれぞれと比較することで前記測定対象を同定する同定手段と、 を有することを特徴とするテラヘルツ分光システム。
IPC (1件):
G01N 21/35 ( 200 6.01)
FI (1件):
G01N 21/35 Z
引用特許:
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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