特許
J-GLOBAL ID:201303090186186742
パルス波高分析器およびこれを備える核医学診断装置
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
杉谷 勉
公報種別:再公表公報
出願番号(国際出願番号):JP2009005081
公開番号(公開出願番号):WO2011-039819
出願日: 2009年10月01日
公開日(公表日): 2011年04月07日
要約:
本発明のパルス波高分析器によれば、基準パルス発生器8は、比較器7に入力されるアナログ放射線パルスPaが初期閾値Vthよりも大きいときは所定の時間Tmに亘って所定の波高値Vmの基準パルスPmを発生する。コンデンサ11および抵抗12はこの基準パルスPmを受け取ると、この所定の時間Tmに亘って増加閾値Vrefを初期閾値Vthから所定の波高値Vmに近づくまで増加させる。そして、この増加閾値Vrefは比較器7の基準電圧として設定される。アナログ放射線パルスPaが初期閾値Vthを上回るタイミングから減衰するアナログ放射線パルスPaが増加閾値Vrefを下回るタイミングまでの時間を計測することにより、アナログ放射線パルスPaのパルス時間幅を計測する。これにより、パルス時間幅に対するパルス波高値のリニアリティは改善される。
請求項(抜粋):
放射線の入射による発光を変換して得られる放射線パルスの波高値を放射線パルスが所定の閾値を上回るタイミングから前記放射線パルスが減衰して所定の閾値を下回るタイミングまでの時間を測定することにより計測し、前記放射線パルスの波高値を分析して必要な波高値の放射線パルスのみを取り出すパルス波高分析器であって、前記放射線パルスが前記所定の閾値を上回るタイミングに同期して前記所定の閾値を増加させる閾値増加手段を備えることを特徴とするパルス波高分析器。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (8件):
2G088EE01
, 2G088FF04
, 2G088GG18
, 2G088GG19
, 2G088JJ05
, 2G088JJ06
, 2G088KK01
, 2G088LL11
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