特許
J-GLOBAL ID：201303092672684692
基質濃度の測定方法及びその装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (4件)：
川口 嘉之
, 松倉 秀実
, 高田 大輔
, 佐貫 伸一
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-533050
特許番号：特許第5051479号
出願日： 2008年09月18日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 生体触媒とその生体触媒が認識する基質との反応の結果生じるエネルギーを一定レベルまで蓄積し、その蓄積速度が基質濃度に依存することを指標として測定することを特徴とする前記基質濃度を測定する方法。
IPC (5件)：
G01N 27/42 ( 200 6.01)
, G01N 27/327 ( 200 6.01)
, G01N 27/26 ( 200 6.01)
, C12Q 1/26 ( 200 6.01)
, C12M 1/34 ( 200 6.01)
G01N 27/42 G
, G01N 27/30 353 R
, G01N 27/26 371 G
, C12Q 1/26
, C12M 1/34 E
