特許
J-GLOBAL ID:201303094548434117

計測装置および計測方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 大城 重信 ,  山田 益男 ,  藤本 信男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2011-162190
公開番号(公開出願番号):特開2013-024808
出願日: 2011年07月25日
公開日(公表日): 2013年02月04日
要約:
【課題】アナログアンプを不要とするとともに、簡単で安価な回路構成で、温度等の環境変化があっても測定対象の物理量を高精度に測定することが可能な計測装置を提供すること。【解決手段】該検出用抵抗素子110が接続された発振部120の出力信号の周波数から測定対象の物理量を演算部130で演算して測定対象Tの物理量を測定する計測装置100であって、発振部120が、既知の電気抵抗値を持つ基準抵抗素子121を少なくとも1つ有し、検出用抵抗素子110と該基準抵抗素子121とを切替えて接続可能に構成されていること。【選択図】図2
請求項(抜粋):
測定対象の物理量の変化を電気抵抗値の変化に変換する検出用抵抗素子と、該検出用抵抗素子が接続されその電気抵抗値に応じた周波数の出力信号を出力する発振部と、前記出力信号の周波数から測定対象の物理量を演算する演算部とを有して、測定対象の物理量を測定する計測装置であって、 前記発振部が、既知の電気抵抗値を持つ基準抵抗素子を少なくとも1つ有し、前記検出用抵抗素子と該基準抵抗素子とを切替えて接続可能に構成されていることを特徴とする計測装置。
IPC (4件):
G01L 1/00 ,  G01K 7/24 ,  G01K 7/25 ,  G01L 25/00
FI (4件):
G01L1/00 K ,  G01K7/24 F ,  G01K7/24 L ,  G01L25/00 B
Fターム (2件):
2F056RF05 ,  2F056RF09
引用特許:
審査官引用 (5件)
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