研究者
J-GLOBAL ID：201401036588540955   更新日: 2024年04月14日

福本 聡

フクモト サトシ | Fukumoto Satoshi
所属機関・部署：
東京都立大学 システムデザイン学部電子情報システム工学科

東京都立大学 システムデザイン学部電子情報システム工学科 について


職名： 教授
ホームページURL (1件)： http://kaken.nii.ac.jp/d/r/50247590.ja.html
研究分野 (2件)： 情報ネットワーク ,  計算機システム
研究キーワード (30件)： ロールバックリカバリ ,  分散チェックポインティング ,  分散システム ,  非連携チェックポインティング ,  組み込み自己テスト ,  ツリークォーラム ,  高電磁環境 ,  連携チェックポインティング ,  チェックポイント ,  ソフトエラー ,  SoC ,  時空間冗長プロセッサ ,  時間冗長プロセッサ ,  SAN ,  SANINAS ,  同時多重故障 ,  確率モデル ,  クォーラム ,  NAS ,  障害回復 ,  分散データベース ,  並列システム ,  データ複製プロトコル ,  性能評価尺度 ,  フルバックアップ ,  電磁波 ,  分散アルゴリズム ,  FPGA ,  畳込み符号 ,  故障モデル
論文 (53件)：
  • Yoshikazu Nagamura, Koji Arima, Masayuki Arai, Satoshi Fukumoto. Layout Feature Extraction Using CNN Classification in Root Cause Analysis of LSI Defects. IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. 2021. 34. 2. 153-160
  • Yoshikazu Nagamura, Takashi Ide, Masayuki Arai, Satoshi Fukumoto. CNN-Based Layout Segment Classification for Analysis of Layout-Induced Failures. IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. 2020. 33. 4. 597-605
  • Ryohei Sato, Satoshi Fukumoto. Response-Time Analysis for Controller Area Networks With Randomly Occurring Messages. IEEE Transactions on Vehicular Technology. 2020. 69. 4. 3893-3902
  • Yudai Komori, Kazuya Sakai, Satoshi Fukumoto. Fast and secure tag authentication in large-scale RFID systems using skip graphs. Computer Communications. 2018. 116. 77-89
  • Yudai Komori, Kazuya Sakai, Satoshi Fukumoto. RFID Tag Grouping Protocols Made Private. Proceedings - 47th Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks Workshops, DSN-W 2017. 2017. 105-106
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MISC (16件)：
  • 小森 雄大, 酒井 和哉, 福本 聡. 大規模なRFIDシステムのためのランダムスキップグラフ認証 (ディペンダブルコンピューティング). 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報. 2016. 116. 20. 1-6
  • 今井 健太, サイサナソンカム アロムハック, 新井 雅之, 福本 聡, 和田 圭二. ディジタル・パワー制御の高信頼化に関する試み (コンピュータシステム). 電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報. 2013. 113. 21. 1-6
  • 永島 一磨, 今井 健太, 新井 雅之, 福本 聡, 和田 圭二. C-025 高電磁環境下で論理回路に発生する過渡故障の実験的評価(ディペンダブルシステム,C分野:ハードウェア・アーキテクチャ). 情報科学技術フォーラム講演論文集. 2012. 11. 1. 317-318
  • 福本 聡, 黒川 晴申, 新井 雅之, 岩崎 一彦. C_017 VLSIのランダムパターンテストにおける残存故障数分布について(C分野:ハードウェア). 情報科学技術フォーラム一般講演論文集. 2006. 5. 1. 195-196
  • 大原 衛, 新井 雅之, 福本 聡, 岩崎 一彦. C-030 ロールバックの制約を考慮した最適非連携チェックポイント間隔に関する検討(C分野:アーキテクチャ・ハードウェア). 情報科学技術フォーラム一般講演論文集. 2005. 4. 1. 249-250
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書籍 (1件)：
  • コンピュータアーキテクチャ 第2版
    朝倉書店 2015
経歴 (1件)：
  • 2010/04 - 東京都立大学 システムデザイン学部 教授
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