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J-GLOBAL ID：201402238738858830   整理番号：14A0608134

超短パルス光が拓く新しい光物理 光周波数コムを利用した長さ計測技術=光周波数コム発生器を用いた高精度微小変位計測=

著者 (1件)： 尾藤洋一 (産業技術総合研)
資料名： 光アライアンス  (Optical Alliance)
巻： 25  号： 6  ページ： 11-15  発行年： 2014年06月01日 
JST資料番号： L1746A  ISSN： 0917-026X  CODEN： HARAEW  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 光周波数変化の測定範囲を拡大する試みとして,電気光学変調器(EO変調器)による光周波数コム発生器を利用した微小変位測定システムについて紹介した。光周波数走査の可能な光源として,波長780nmの外部共振器型半導体レーザを用いた。そのシステムを用いた微小変位の測定例(ビート周波数変化の測定例)を示した。周波数標準に直接トレーサブルな変位測定・制御システムを使ったPLLによる変位制御の結果を示した。約1nm程度のノイズレベルで変位制御できていることを示した。デュアルキャビティによる高精度微小変位測定システムを使ったPLLによる変位制御の結果を示した。約25pmのノイズレベルで変位制御できていることを示した。

シソーラス用語： *光パルス ,  物理学 ,  *周波数 ,  *長さ測定 ,  周波数標準器 ,  長さ ,  *変位測定 ,  変位 ,  光変調素子 ,  半導体レーザ ,  位相同期ループ ,  雑音指数
準シソーラス用語： *光周波数コム ,  光周波数コム装置 ,  *光物理 ,  *超短パルス ,  電気光学変調器 ,  *微小変位

分類 (2件)： 長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O) ,  電気光学効果,磁気光学効果  (BM08020L)

タイトルに関連する用語 (7件)： 超短パルス ,  光物理 ,  光周波数コム ,  長さ計測 ,  発生器 ,  微小 ,  変位計測