特許
J-GLOBAL ID：201403015074645545
誘電率測定装置および誘電率測定方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人創成国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-094452
公開番号（公開出願番号）：特開2014-215246
出願日： 2013年04月26日
公開日（公表日）： 2014年11月17日
要約：
【課題】媒質の誘電率の測定精度を維持しながらコストの低下を図りうる誘電率測定装置および方法を提供する。【解決手段】媒質に挿入されている一対のプローブ31、32の間にパルスジェネレータ10によりパルス電圧が印加される。一対または複数対のそれぞれをなす2箇所で一対の伝送ライン21、22の間の電位差V1およびV2が測定され、当該パルス電圧に由来する電位差V1およびV2の立ち上がり時間差Δt’が測定される。当該立ち上がり時間差Δt’に基づき、所定の関係式εr=f(Δt’)にしたがって、媒質の比誘電率εrが測定される。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
一対のプローブと、
前記一対のプローブのそれぞれに接続されている一対の伝送ラインと、
前記一対の伝送ラインを介して前記一対のプローブの間にパルス電圧を印加するように構成されているパルスジェネレータと、
前記一対の伝送ラインの間の電位差を一対または複数対のそれぞれをなす2箇所で測定するように構成されている電位差検出器と、
媒質に挿入されている前記一対のプローブの間に前記パルスジェネレータによりパルス電圧が印加された際の前記2箇所間の前記電位差の立ち上がり時間差Δt’を測定し、前記立ち上がり時間差Δt’に基づき、所定の関係式εr=f(Δt’)にしたがって、前記媒質の比誘電率εrを測定するように構成されているコンピュータと、を備えていることを特徴とする誘電率測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N22/00 Y
, G01N22/04 Z
