特許
J-GLOBAL ID：201403026954746890
電磁波計測装置
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
三好 秀和
, 工藤 理恵
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-196578
公開番号（公開出願番号）：特開2011-047800
特許番号：特許第5554952号
出願日： 2009年08月27日
公開日（公表日）： 2011年03月10日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 電気光学効果を利用して電磁波を計測する装置において、
少なくとも一方が電磁波によって屈折率の変化する2種類の誘電体薄膜(結晶構造を有する誘電体薄膜を除く。)を交互に積層して多層化し、入射光に対して所望の偏光状態を作り出す光学素子と、
前記光学素子にレーザ光を照射するレーザ光源と、
前記光学素子からのレーザ光の偏光状態の変化を強度変化に変換するポラライザと、
前記ポラライザからのレーザ光を電気信号に変換する光電変換器とを具備し、
前記2種類の誘電体薄膜は、2つの透明直角プリズムの貼り合わせ面上において交互に積層されて多層化されていることを特徴とする電磁波計測装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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