特許
J-GLOBAL ID：201403042091266016
蛍光顕微鏡装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
井島 藤治
, 三好 秀和
, 岩▲崎▼ 幸邦
, 伊藤 正和
, 高橋 俊一
, 高松 俊雄
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-109527
公開番号（公開出願番号）：特開2011-180570
特許番号：特許第5476206号
出願日： 2010年05月11日
公開日（公表日）： 2011年09月15日
請求項（抜粋）：
【請求項1】磁気共鳴により蛍光強度が変動する蛍光体を含む試料に励起光を照射し、前記蛍光体の蛍光を観察する光学顕微鏡と、
前記磁気共鳴を発生させる高周波磁場を前記試料に照射する高周波磁場発生部と、
前記高周波磁場を変調する変調信号を生成する変調部と、
前記高周波磁場を変調しながら前記光学顕微鏡で観察した前記試料表面の光強度を複数の画素のそれぞれの位置でサンプリング時間毎に検出する検出器と、
前記複数の画素の中から前記光強度の時系列変動が前記変調信号と互に相関している対象画素を抽出する処理ユニット
とを備え、
前記高周波磁場発生部が、高周波電気信号を発振する発振器、前記高周波電気信号により前記高周波磁場を生成する高周波コイルを含むと共に、
前記変調信号が、前記磁気共鳴が停止又は減少する第1状態、及び前記磁気共鳴が発生する第2状態に切り替えるように、前記高周波電気信号の周波数又は振幅を変調する電気信号であり、
前記処理ユニットは、前記第1及び第2状態のそれぞれで検出された光強度の差分を演算し、前記対象画素を前記蛍光体の蛍光として抽出する演算部を含むことを特徴とする蛍光顕微鏡装置。
IPC (2件)：
G02B 21/06 ( 200 6.01)
, G01N 21/64 ( 200 6.01)
G02B 21/06
, G01N 21/64 E
, G01N 21/64 F
