特許

J-GLOBAL ID：201403051277224398

特徴量生成装置、特徴量生成方法および特徴量生成プログラム、ならびにクラス判別装置、クラス判別方法およびクラス判別プログラム

発明者： 原田 達也 ,  中山 英樹 ,  國吉 康夫
出願人/特許権者： 国立大学法人 東京大学
代理人 (1件)： 特許業務法人アイテック国際特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-121244
公開番号（公開出願番号）：特開2010-271787
特許番号：特許第5382786号
出願日： 2009年05月19日
公開日（公表日）： 2010年12月02日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 実世界情報を示す1つのデータから抽出された複数の高次局所特徴ベクトルを用いて前記1つのデータ全体の特徴を示す特徴ベクトルを生成する特徴量生成装置であって、 前記複数の高次局所特徴ベクトルの平均ベクトルを取得する平均取得手段と、 前記複数の高次局所特徴ベクトル間における第1次から第M次までのm次相関ベクトル(ただし、“M”は値1以上の整数であり、“m”は値1から値Mまでの整数である)を取得する相関取得手段と、 前記平均取得手段により取得された平均ベクトルを構成する要素と、前記相関取得手段により取得されたm次相関ベクトルを構成する要素とに基づいて前記特徴ベクトルを取得する特徴ベクトル取得手段と、 を備える特徴量生成装置。

IPC (2件)：

G06T 7/00 ( 200 6.01) ,  G06F 17/30 ( 200 6.01)

FI (4件)：

G06T 7/00 350 B ,  G06F 17/30 210 D ,  G06F 17/30 170 B ,  G06F 17/30 170 E

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 画像認識装置及び方法、並びにロボット装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-124225   出願人：ソニー株式会社

引用文献：

出願人引用 (2件)

• Scene Classification using Generalized Local Correlation
• PCA-SIFT: a more distinctive representation for local image descriptors