特許
J-GLOBAL ID:201403091629206249

被検物質の測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 木森 有平 ,  浅野 典子
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-124527
公開番号(公開出願番号):特開2009-276064
特許番号:特許第5327739号
出願日: 2008年05月12日
公開日(公表日): 2009年11月26日
請求項(抜粋):
【請求項1】標識物質で標識された被検物質の測定方法であって、触媒金属微粒子を前記標識物質として用いて、試料溶液中の前記被検物質に対応した量の前記触媒金属微粒子を作用電極近傍に局在化させ、作用電極近傍に局在化させた前記触媒金属微粒子を電気化学的に酸化し前記作用電極表面で溶解し、さらに電気化学的に還元することで溶解した触媒金属を前記作用電極表面に析出させ、析出した前記触媒金属の触媒作用による電流を測定し、測定された電流値に基づいて被検物質の有無又は濃度を調べることを特徴とする標識物質で標識された被検物質の測定方法。
IPC (3件):
G01N 27/327 ( 200 6.01) ,  G01N 33/543 ( 200 6.01) ,  G01N 27/416 ( 200 6.01)
FI (4件):
G01N 27/30 357 ,  G01N 33/543 541 Z ,  G01N 27/46 336 G ,  G01N 27/46 338
引用特許:
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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引用文献:
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