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J-GLOBAL ID：201502224848796705   整理番号：15A0713347

2次元検出器による内部ひずみ評価法

著者 (4件)： 鈴木賢治 (新潟大) ,  菖蒲敬久 (日本原子力研究開発機構) ,  城鮎美 (徳島大 大学院) ,  豊川秀訓 (高輝度光科学研究セ)
資料名： 保全学  (Maintenology)
巻： 11  号： 2  ページ： 99-106  発行年： 2012年07月10日 
JST資料番号： F1552A  ISSN： 1348-7795  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 材料の内部応力を知るために,二次元検出器による二次元歪スキャニング法を検討した。特に,X線をゴニオメータ中心に集束できる回転スリットの有効性と,二次元検出器の精度などを調べた。計数型二次元検出器と回転スリットを組み合わせて,粗大粒の内部応力を評価する手法を提案した。二次元歪スキャニングでは測定した回折点がシフトし,歪によるシフトに比べてシフトの大きさが大きい。この現象はゲージ体積と粗大粒の間の相互作用で生じる。この粗大粒効果を克服するために,回折点トレース法DSTMを提案した。粗大粒アルミニウム合金の曲げ応力分布をDSTMで測定した。

シソーラス用語： *光学スリット ,  歪 ,  二次元 ,  検出器 ,  走査 ,  固体粒子 ,  *X線回折 ,  *内部応力 ,  曲げ応力 ,  アルミニウム合金
準シソーラス用語： 内部歪 ,  粗大粒子

分類 (2件)： X線回折法  (BK01020I) ,  金属材料  (HC02020X)

引用文献 (9件)：

• P.J. Withers, “Use of synchrotron X-ray radiation for stress measurement“, Analysis of Residual Stress by Diffraction using Neutron and Synchrotron Radiation, ed. by M.E. Fitzpatrick and A. Lodini, Talor & Francis, 2003, pp. 170-189.
• 例えば、田中啓介、鈴木賢治、秋庭義明、菖蒲敬久、“放射光による応力とひずみの評価“、2009、養賢堂.
• R.V. Martins and V. Honkimäki, “Depth resolved strain and phase mapping of dissimilar friction stir welds using high energy synchrotron radiation“, Texture and Microstructures, Vol. 35, No. 3/4, 2003, pp. 145-152.
• R.V. Martins, U. Lienert, L. Margulies and A. Pyzalla, “Determination of the radial crystallite microstrain distribution within an AIMg₃ torsion sample using monochromatic synchrotron radiation“, Material Science & Engineering, Vol. A402, 2005, pp. 278-287.
• R.V. Martins, “Residual stress Analysis by Mono-chromatic High-Energy X-rays“, Newtrons and Synchrotron Radiation in Engineering Materials Science, ed. by W. Reimers, A.R. Pyzalla, A. Schreyer and H. Clemens, 2008, Wiley-VCH, pp. 177-194.

タイトルに関連する用語 (4件)： 2次元 ,  検出器 ,  内部ひずみ ,  評価法