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J-GLOBAL ID：201502246578464288   整理番号：15A0508415

非接触原子間力顕微鏡/力分光法によるNH₃反応Si(111)-(7×7)表面上のNH₂とH吸着基の識別

著者 (4件)： 坂野友樹 (金沢大) ,  稲村竜 (金沢大) ,  富取正彦 (北陸先端科学技術大学院大) ,  新井豊子 (金沢大)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 62nd  ページ： ROMBUNNO.13P-D9-5  発行年： 2015年02月26日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2436-7613  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 顕微鏡観察 ,  スペクトロスコピー ,  *アンモニア ,  *ケイ素 ,  センサ ,  片持梁 ,  原子 ,  *表面反応 ,  *吸着
準シソーラス用語： アドアトム ,  カンチレバー ,  *原子間力顕微鏡法 ,  非接触AFM ,  力センサ ,  *力分光法

分類 (1件)： 物理的手法を用いた吸着の研究  (CB12043P)

タイトルに関連する用語 (6件)： 非接触原子間力顕微鏡 ,  力分光法 ,  NH3 ,  Si ,  吸着 ,  識別