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J-GLOBAL ID：201502248132820792   整理番号：15A0753038

戻り光を利用した利得変調半導体レーザーの時間ジッター計測

Timing Jitter Measurement of Gain-Switched Semiconductor Lasers Using Delayed Optical Feedback

著者 (4件)： 和田健司 (大阪府大 大学院工学研究科) ,  山上雄基 (大阪府大 大学院工学研究科) ,  松山哲也 (大阪府大 大学院工学研究科) ,  堀中博道 (大阪府大 大学院工学研究科)
資料名： レーザー研究  (レーザー学会誌)
巻： 43  号： 6  ページ： 371-375  発行年： 2015年06月20日 
JST資料番号： X0335A  ISSN： 0387-0200  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： パルス光光源を利用する光通信や光計測の応用分野では,光パルスの時間幅や,パルス光光源の時間ジッターは,システム性能を決定する上で重要なパラメータである。光パルスの時間幅測定に対して提案された間接測定法は,すべて干渉計を利用している。簡易測定の観点から,干渉計を用いることなく,光パルスの線形強度スペクトルとSH強度スペクトルの情報から,繰り返し計算を行い,光パルスを再構築する方法を提案した。その有用性を実験的に検証した。時間ジッター測定法を説明し,利得変調半導体レーザーの時間ジッターを測定した。高価で高速な装置を用いることなく,時間ジッターを計測できた。

シソーラス用語： *半導体レーザ ,  信号変調 ,  増幅器 ,  半導体 ,  利得 ,  フィードバック ,  計測 ,  時間依存性 ,  パルス光光源 ,  光通信 ,  光学的測定 ,  光パルス ,  性能 ,  パラメータ ,  パルス幅 ,  干渉計 ,  *レーザパルス ,  *ジッタ ,  スペクトル線強度
準シソーラス用語： システム性能 ,  光計測 ,  戻り光 ,  *利得変調

分類 (1件)： 半導体レーザ  (BD04070L)

引用文献 (25件)：

• K. Naganuma, K. Mogi, and H. Yamada: IEEE J. Quantum Electron. 25 (1989) 1225.
• K. L. Sala, G. A. Kenny-Wallace, and G. E. Hall: IEEE J. Quantum Electron. 16 (1980) 990.
• R. Trebino and D. J. Kane: J. Opt. Soc. Am. A 10 (1993) 1101.
• J. N. Sweetser, D. N. Fittinghoff, and R. Trebino: Opt. Lett. 22 (1997) 519.
• S. Linden, H. Giessen, and J. Kuhl: Phys. Status Solidi B 206 (1998) 119.

タイトルに関連する用語 (5件)： 戻り光 ,  利得変調 ,  半導体レーザー ,  ジッター ,  計測