特許
J-GLOBAL ID：201503004543845726
被測定対象の特性測定装置及び被測定対象の特性測定方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
河野 広明
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2012067575
公開番号（公開出願番号）：WO2013-011869
出願日： 2012年07月10日
公開日（公表日）： 2013年01月24日
要約：
【課題】物体の特性測定手段として音波を利用することによって高い空間分解能を維持しつつ、仮に連続波であっても音波発生源の発生する電磁場ノイズ等から測定対象となる電気信号を確度高く抽出することのできる被測定対象の特性測定装置及びその方法を提供する。【解決手段】本発明の1つの被測定対象の特性測定装置100は、被測定対象90から離れて配置される、振幅変調された音波を照射する音波照射部40と、その音波が被測定対象90に対して照射されることによって発生する電磁場を受信する受信部50と、その電磁場の強度、位相、及び周波数からなる群から選択される少なくとも1種の測定に基づいて、被測定対象90の電気特性、磁気特性、電気機械特性、及び磁気機械特性からなる群から選択される少なくとも1種の特性を抽出する測定部60とを備えている。
請求項（抜粋）：
被測定対象から離れて配置される、振幅変調又は周波数変調された音波を照射する音波照射部と、
前記音波が前記被測定対象に対して照射されることによって発生する電磁場を受信する受信部と、
前記電磁場の強度、位相、及び周波数からなる群から選択される少なくとも1種の測定に基づいて、前記被測定対象の電気特性、磁気特性、電気機械特性、及び磁気機械特性からなる群から選択される少なくとも1種の特性を抽出する測定部と、を備える、
被測定対象の特性測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N22/00 Z
, G01N24/00 Z
