特許
J-GLOBAL ID:201503010479882770

磁気抵抗効果素子及び磁気ランダムアクセスメモリの製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 工藤 実
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2014-094590
公開番号(公開出願番号):特開2014-140077
特許番号:特許第5754531号
出願日: 2014年05月01日
公開日(公表日): 2014年07月31日
請求項(抜粋):
【請求項1】 反転可能な磁化を有する磁化自由層を形成する工程と、 前記磁化自由層の上に絶縁層を形成する工程と、 前記絶縁層の上に、磁化がほぼ一方向に固定された磁化固定層を形成する工程と を具備し、 前記磁化自由層を形成する工程は、 NiFeBから成る第2磁化自由層を形成する工程と、 前記第2磁化自由層の上に、Fe又はCoから成る第1磁化自由層を形成する工程と を備え、 前記絶縁層は、前記第1磁化自由層の上に形成され、 前記第1磁化自由層の膜厚が0.2nm以上1.0nm以下である 磁気抵抗効果素子の製造方法。
IPC (4件):
H01L 21/8246 ( 200 6.01) ,  H01L 27/105 ( 200 6.01) ,  H01L 29/82 ( 200 6.01) ,  H01L 43/08 ( 200 6.01)
FI (3件):
H01L 27/10 447 ,  H01L 29/82 Z ,  H01L 43/08 Z
引用特許:
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (7件)
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