特許
J-GLOBAL ID：201503029879108498

濃度定量装置及び濃度定量方法並びにプログラム

発明者：
天野 和彦

天野 和彦 について

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清水 孝一

清水 孝一 について


出願人/特許権者：
セイコーエプソン株式会社

セイコーエプソン株式会社 について

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国立大学法人北海道大学

国立大学法人北海道大学 について


代理人 (2件)： 志賀 正武 ,  大浪 一徳
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-158097
公開番号（公開出願番号）：特開2012-021811
特許番号：特許第5674093号
出願日： 2010年07月12日
公開日（公表日）： 2012年02月02日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 複数の光散乱媒質の層により構成される観測対象のうち、任意の層における目的成分の濃度を定量する濃度定量装置であって、 前記観測対象に、前記任意の層における水の吸収係数の温度変化が小さい特定波長の光を照射する照射手段と、 前記光を照射することにより前記観測対象より放射される複数種の後方散乱光から前記任意の層より放射される後方散乱光を時間分解計測して選択する光散乱媒質層選択手段と、 前記任意の層から放射される後方散乱光を受光する受光手段と、 前記受光手段が受光した光の強度を取得する光強度取得手段と、 前記光強度取得手段が取得した光強度に基づいて、前記任意の層の光吸収係数を算出する光吸収係数算出手段と、 前記光吸収係数算出手段が算出した光吸収係数に基づいて、前記任意の層における前記目的成分の濃度を算出する濃度算出手段と、を備え、 前記光を短時間パルス光とし、さらに、 前記観測対象に対して照射する前記短時間パルス光の、前記複数の光散乱媒質の層の各々の層における伝搬光路長分布のモデルを記憶する光路長分布記憶手段と、 前記観測対象に対して照射する前記短時間パルス光の時間分解波形のモデルを記憶する時間分解波形記憶手段と、 前記光路長分布記憶手段から、前記伝搬光路長分布のモデルの所定の時刻における、前記複数の光散乱媒質の層の各々の層の光路長を取得する光路長取得手段と、 前記時間分解波形記憶手段から、前記短時間パルス光の時間分解波形のモデルの前記所定の時刻における光の強度を取得する光強度モデル取得手段とを備え、 前記光強度取得手段は、前記任意の層の複数の時刻t1〜tmにおける光強度を取得し、 前記光吸収係数算出手段は、前記任意の層の光吸収係数を、下記の式(1) (但し、I(t)は前記受光手段が時刻tにて受光した光強度、N(t)は前記短時間パルス光の時間分解波形のモデルの時刻tにおける光強度、Li(t)は前記複数の光散乱媒質の各々の層における伝搬光路長分布のモデルの時刻tにおける第i層の光路長、μiは第i層の光吸収係数である)から算出することを特徴とする濃度定量装置。
IPC (3件)：
A61B 5/1455 ( 200 6.01) ,  G01N 21/17 ( 200 6.01) ,  G01N 21/359 ( 201 4.01)
FI (3件)：
A61B 5/14 322 ,  G01N 21/17 610 ,  G01N 21/359
引用特許：
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (8件)
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