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文献
J-GLOBAL ID:201602208022469662   整理番号:16A0337678

論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減

Reduction of open fault test pattern generation time by selection of adjacent lines for assigning logic value
著者 (5件):
資料名:
巻: 115  号: 449(DC2015 86-96)  ページ: 13-18  発行年: 2016年02月10日 
JST資料番号: S0532B  ISSN: 0913-5685  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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半導体プロセスの微細化に伴って,配線およびビアの断線故障が増加している。断線故障は故障線論理値を隣接線間容量によって制御することができれば縮退故障として検出できる。大規模回路の場合,隣接線数が非常に多く,隣接線を考慮したテスト生成時間の増大が問題となる。そこで本研究では,隣接線の判定条件を設け,ATPGで自動テスト生成を行う際の論理値割当隣接線を選択することでテスト生成時間を短縮する。ISCAS89ベンチマーク回路レイアウトから隣接線情報抽出を行い,ATPGと故障シミュレータを用いた調査で検出率を維持したまま,テスト生成時間の短縮が可能かどうか,提案手法の有効性を評価した。(著者抄録)
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分類 (2件):
分類
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信頼性  ,  その他の情報処理 
タイトルに関連する用語 (5件):
タイトルに関連する用語
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