文献

J-GLOBAL ID：201602210705469425   整理番号：16A0041954

高分子混合試料のArクラスタースパッタリング正・負二次イオンスペクトルにおけるマトリックス効果の評価

著者 (3件)： 高橋一真 (成蹊大 理工) ,  横山有太 (成蹊大 理工) ,  青柳里果 (成蹊大 理工)
資料名： 表面科学学術講演会講演要旨集  (表面科学学術講演会要旨集)
巻： 35th  ページ： 178  発行年： 2015年12月01日 
JST資料番号： L1366A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *二次イオン質量分析 ,  *アルゴン ,  *クラスタイオン ,  ビスマス ,  金属イオン ,  *単一層 ,  混合層 ,  *多層膜 ,  イオン
準シソーラス用語： *TOF-SIMS ,  ビスマスイオン ,  *積層膜 ,  負二次イオン

分類 (3件)： 質量分析計  (BD02060M) ,  原子・分子のクラスタ  (BH09030O) ,  有機化合物の薄膜  (BK14070L)

物質索引 (2件)： イルガノックス1010 ,  イルガノックス1098

タイトルに関連する用語 (7件)： 高分子 ,  混合試料 ,  Ar ,  二次イオン ,  スペクトル ,  マトリックス効果 ,  評価