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J-GLOBAL ID：201602218570326379   整理番号：16A0337686

電源ノイズによるFF回路の動作への影響に関する研究

Study on the Effect of Power Supply Noise on Flip-Flop Circuits

著者 (2件)： 山本拓弥 (首都大学東京 大学院システムデザイン研究科) ,  三浦幸也 (首都大学東京 システムデザイン)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 115  号： 449(DC2015 86-96)  ページ： 61-66  発行年： 2016年02月10日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 近年,VLSI回路の微細化,低電圧化が進むにつれて,IR-dropのような電源ノイズが論理回路,特にSRAM(static random access memory)やFF(Flip-Flop)回路のような記憶素子の動作に与える影響が問題となっている。SRAMにおいては既に事例の報告と共にいくつかの対策手法が提案されている。今後更にVLSI回路の微細化,低電圧化が進むと,FF回路においてもこの問題が顕著となり,対策が必要となる可能性が高い。そこで,本研究では回路シミュレーションを用いて,電源ノイズがFF回路の動作に与える影響について解析を行った。得られた結果から,FF回路の動作に異常が発生した場合の原理,原因や,回路構成,シミュレーション条件等の違いによる電源ノイズのFF回路の動作への影響についての考察を行った。(著者抄録)

シソーラス用語： *雑音 ,  *双安定回路 ,  電子回路 ,  SRAM ,  記憶素子 ,  構成 ,  電圧 ,  論理回路
準シソーラス用語： *電源ノイズ ,  *フリップフロップ回路 ,  VLSI回路 ,  回路構成 ,  低電圧

分類 (2件)： 雑音理論  (ND04020U) ,  その他の情報処理  (JE15050M)

タイトルに関連する用語 (2件)： 電源ノイズ ,  研究