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J-GLOBAL ID：201602226389036014   整理番号：16A1386507

複素屈折率の直接モデルに基づくトモグラフィー再構成【Powered by NICT】

Direct model-based tomographic reconstruction of the complex refractive index

著者 (3件)： Mohan K. Aditya (School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN 47907, USA) ,  Xiao Xianghui (Argonne National Laboratory, Lemont, IL 60439) ,  Bouman Charles A. (School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN 47907, USA)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： ICIP  ページ： 1754-1758  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： X線伝搬に基づく位相コントラストトモグラフィー(XPCT)は,単一距離測定からの材料の複素屈折率を再構成するトモグラフィーのための方法として普及してきた。XPCTは従来のX線コンピュータ断層撮影(CT)上での二つの主要な利点を有している:それは,より高いコーンビーム倍率で使用でき,典型的に高いコントラストを生成した。しかし,電流XPCT再構成アルゴリズムは,近接場回折,それらの使用と再構成品質の両方を制限するに限定されている。本論文では,複雑な屈折率トモグラフィー反復再構成(CRITIR)と呼ばれるモデルベース反復再構成(MBIR)アルゴリズムを提案した。CRITIRはX線伝搬に対する非線形物理モデルと画像化物体の複素屈折率のための事前モデルに基づいている。従来法とは異なり,CRITIRは,近視野回折領域を超えて動作するように設計された。シミュレーションが従来法では近接場領域を越えたぼやけた端を有する不正確な再構成をもたらすこのアルゴリズムが物体を再構成する正確にことを示した。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *トモグラフィー ,  *屈折率 ,  *複素屈折率 ,  近接場 ,  コントラスト ,  距離測定 ,  アルゴリズム ,  X線 ,  *再構成
準シソーラス用語： 画像化 ,  モデルベース ,  反復再構成 ,  再構成アルゴリズム ,  位相コントラスト ,  *トモグラフィー再構成 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 医用画像処理  (JE04020T) ,  パターン認識  (JE07000S) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (3件)： 複素屈折率 ,  モデル ,  トモグラフィー再構成