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J-GLOBAL ID:201602237364616815   整理番号:16A0739123

サーモパイル検出器ウエハレベル試験技術を研究した。【JST・京大機械翻訳】

The wafer level testing research of the thermopile detector
著者 (5件):
資料名:
巻: 37  号: 9B  ページ: 1-5  発行年: 2015年 
JST資料番号: C2179A  ISSN: 1009-0134  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
抄録/ポイント:
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MEMS熱電赤外検出器の炉の消費電子、医療保健、スマートホームなど工業分野における応用はますます広範であり,その需要も日々増加している。従っていかに低減デバイスの生産コストが市場シェアを勝ち取る便デバイスメーカが最も関心がある問題となる。MEMS熱電赤外検出器は,現在の炉の試験コストがその総コストの半分以上を占める。現在の技術および試験装置の制限のため,その試験は,ほとんどが人手により逐次完成し,そのコストを制限することである。この1の産業の需要に対して,1つの熱電検出器の大量自動テストシステムは明確な市場価値を持つ炉を開発した。熱電赤外検出器の動作特性は炉をめぐり,特に環境温度および励起デバイスの動作に及ぼす温度の影響を,一組のウエハレベル赤外熱電に対して検出器炉試験の特殊な需要の大量テストシステムを構築した。Data from the ScienceChina, LCAS.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (9件):
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研究開発  ,  計算機網  ,  電話・データ通信・交換一般  ,  住宅建築,農村建築,城  ,  電気自動車  ,  エネルギー貯蔵  ,  太陽電池  ,  生物燃料及び廃棄物燃料  ,  生産工学一般 
タイトルに関連する用語 (5件):
タイトルに関連する用語
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