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J-GLOBAL ID：201602237389613049   整理番号：16A0772354

ウェアラブルエレクトロニクス用のプロセス変動耐性フレキシブル回路【Powered by NICT】

Process-variation tolerant flexible circuit for wearable electronics

著者 (3件)： Huang Tsung-Ching (Hewlett Packard Labs, Palo Alto, USA) ,  Cheng Kwang-Ting (Dept. of Electrical and Computer Engineering, University of California, Santa Barbara, USA) ,  Beausoleil Raymond (Hewlett Packard Labs, Palo Alto, USA)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： ISCAS  ページ： 353-356  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： フレキシブルエレクトロニクスはウェアラブル応用のための有望な技術である。が,フレキシブルプリント薄膜トランジスタ(TFT)回路はしばしば大きなプロセス変動と下長期信頼性に悩まされている。フレキシブルTFT回路の設計課題に取り組むために[1]発明した疑似CMOSとして知られる新しい設計スタイルを含むロバストなプリント回路に関する最近の進歩を述べた。製造後同調能力により,疑似CMOSは低コスト印刷プロセスのための避けられない大きなプロセス変動に耐えることができる。変動または加齢による,回路性能の劣化は,外部同調回路により回収することができた。もエネルギー[2],[3],生物医学[4]および近接場通信(NFC)タグ[5],[6]への応用のための疑似CMOS回路のいくつかの設計例を示した。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 薄膜トランジスタ ,  回路特性 ,  同調 ,  印刷 ,  近接場 ,  ロバスト性 ,  *フレキシブル基板 ,  CMOS ,  CMOS集積回路 ,  長期信頼性 ,  *ウェアラブル ,  *プロセス変動
準シソーラス用語： 生物医学 ,  プリント回路 ,  フレキシブルエレクトロニクス , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (3件)： プロセス変動 ,  耐性 ,  フレキシブル回路