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J-GLOBAL ID：201602238982827024   整理番号：16A1264459

レーザ誘起破壊分光法を用いたシリコーンゴムのアブレーション特性と元素分析【Powered by NICT】

Ablation Properties and Elemental Analysis of Silicone Rubber Using Laser-Induced Breakdown Spectroscopy

著者 (4件)： Wang Xilin (Tsinghua University, Shenzhen, China) ,  Wang Han (Tsinghua University, Shenzhen, China) ,  Chen Can (Tsinghua University, Shenzhen, China) ,  Jia Zhidong (Tsinghua University, Shenzhen, China)
資料名： IEEE Transactions on Plasma Science  (IEEE Transactions on Plasma Science)
巻： 44  号： 11  ページ： 2766-2771  発行年： 2016年 
JST資料番号： D0036B  ISSN： 0093-3813  CODEN： ITPSBD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： レーザ誘起絶縁破壊分光法(LIBS)を用いて,室温加硫したシリコーンゴムと高温加硫シリコーンゴム新たに調製した試料の元素組成を,本論文で分析した。LIBSスペクトルは,炭素(C),酸素(O),アルミニウム(Al),けい素(Si),鉄(Fe),亜鉛(Zn)は,エネルギー分散型X線分光法(EDS)の結果と一致して含まれていたことを示した。走査型電子顕微鏡(SEM)を用いて,微細形態とアブレーションクレータの深さが観察された。クレータサイズは約200 400μmであった,ナノアブレーション領域とアブレーション領域の疎水性の違いではないし,クレータの静的接触角は,ナノアブレーション領域のそれよりも大きく,LIBS分析はほぼ非破壊ことを意味した。アブレーションクレータの深さは,in situ分析におけるロットに役立つであろうことをレーザパルス数と直線関係を示した。ショットのレーザエネルギーを増加させると,明確な要素と電子数密度のスペクトル線の強度を同時に増加させるであろう。研究結果は,LIBSは,特に線に及ぼすシリコーンゴムの有望な要素解析技術である,複合材料の組成を明確に観測できることを示した。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： エネルギー散逸 ,  *アブレーション ,  疎水性 ,  高温 ,  レーザパルス ,  X線分光法 ,  *元素分析 ,  クレータ ,  数密度 ,  走査電子顕微鏡 ,  接触角 ,  *シリコーンゴム ,  加硫
準シソーラス用語： 元素組成 ,  レーザ誘起絶縁破壊分光法 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 気体放電  (BJ03020T) ,  プラズマ診断  (BJ02090L)

タイトルに関連する用語 (4件)： レーザ誘起破壊分光法 ,  シリコーンゴム ,  アブレーション ,  元素分析