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J-GLOBAL ID：201602244077540718   整理番号：16A1159554

拡径光干渉計に基づくMACH-ZEHNDER干渉計の変位センサを提案した。【JST・京大機械翻訳】

Displacement sensor based on filter up-tapered Mach-Zehnder interferometer

著者 (7件)： Wen Xiaodong (Key Lab of All Optical Network & Advanced Telecommunication Network of EMC, Beijing Jiaotong University) ,  Ning Tigang (Key Lab of All Optical Network & Advanced Telecommunication Network of EMC, Beijing Jiaotong University) ,  Li Jing (Key Lab of All Optical Network & Advanced Telecommunication Network of EMC, Beijing Jiaotong University) ,  Zheng Jingjing (Key Lab of All Optical Network & Advanced Telecommunication Network of EMC, Beijing Jiaotong University) ,  You Haidong (Key Lab of All Optical Network & Advanced Telecommunication Network of EMC, Beijing Jiaotong University) ,  Li Chao (Key Lab of All Optical Network & Advanced Telecommunication Network of EMC, Beijing Jiaotong University) ,  Wang Chuncan (Key Lab of All Optical Network & Advanced Telecommunication Network of EMC, Beijing Jiaotong University)
資料名： Hongwai yu Jiguang Gongcheng  (Hongwai yu Jiguang Gongcheng)
巻： 45  号： 6  ページ： 622001_01-622001_04  発行年： 2016年 
JST資料番号： C2521A  ISSN： 1007-2276  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 直線光ファイバMACH-ZEHNDER干渉計をフィルタ素子とし、エルビウムドープファイバを利得媒体とするエルビウムドープファイバレーザによる変位センサーを実現した。このMACHZEHNDER干渉計を構成する拡径光を光ファイバ法により作製した。二つの応力調節ステントの距離の減少に伴い、干渉計は湾曲し、出力のピークは短波長方向に移動し、最大感度は4.49MMであり、消光比は50DBより大きい。拡径光の導入により,ファイバは曲げ時にほぼ一致する曲率を保持することができ,また他の構造よりも強度が高く,破断が起こりにくくなる。同時に、この構造の制作には材料が安く、製作過程が簡便で、工学の応用に有利である。Data from the ScienceChina, LCAS.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： ステント ,  *干渉計 ,  生産工程 ,  利得 ,  消光比 ,  光ファイバ ,  媒質 ,  曲率 ,  フィルタ
準シソーラス用語： 短波長 ,  エルビウムドープファイバ ,  *変位センサ ,  *光干渉計 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： displacement sensor ,  fiber up-taper ,  Mach-Zehnder interferometer

分類 (2件)： 固体レーザ  (BD04080W) ,  光導波路,光ファイバ,繊維光学  (BD06030H)

タイトルに関連する用語 (5件)： 拡径 ,  光干渉計 ,  干渉計 ,  変位センサ ,  提案